Spektroskopický elipsometr SpecEl 2000

Spektroskopický elipsometr SpecEl 2000SpecEl je kompartní spektroskopický elipsometr určený k měření vlastností tenkých vrstev v rozsahu vlnových délek maximálně 300-1000 nm, pro vrstvy od 1 nm do 10 um s rozlišením 0.1 nm a v multivrstvě až 25 vrstev.

Kromě tloušťky vrstvy umí spektrální elipsometr měřit také hodnotu indexu lomu a to pro jednotlivé vlnové délky podél spektrálního rozsahu. Tak jako u NanCalcu lze i SpecEl doplnit o doplňky, jako je možnost mapování a výkonný software umožňuje různé druhy modelování.

Ideální pro měření plochých vzorků, jakými jsou waffery, sklo, fólie a tenké vrstvy na plochých podkladech.

Stáhněte si o systému SpecEl 2000 více informací:

Chcete doporučit vhodnou konfiguraci systému pro Vaši aplikaci? Zašlete nám svůj dotaz.

Položky označené hvězdičkou (*) jsou povinné.

Po kliknutí na "Odeslat zprávu", bude zpráva zaslána na náš e-mail. Odpověď můžete očekávat do 2 pracovních dnů. Většinou to ale bývá do pár hodin.


RSSRSS

Novinky

201722.11.

Speciální akce na spektrofotometr sph870

Speciální akce na spektrofotometr sph870pro průmyslové zákazníky, kteří potřebují měřit barvu a sledovat kvalitu snadno a flexibilně.

Archiv novinek

Zasílání novinek e-mailem

Přejete si dostávat novinky do Vaší e-mailové schránky? Vyplňte následující formulář.

Zasílání novinek e-mailem