Spektroskopický elipsometr SpecEl 2000

Spektroskopický elipsometr SpecEl 2000SpecEl je kompartní spektroskopický elipsometr určený k měření vlastností tenkých vrstev v rozsahu vlnových délek maximálně 300-1000 nm, pro vrstvy od 1 nm do 10 um s rozlišením 0.1 nm a v multivrstvě až 25 vrstev.

Kromě tloušťky vrstvy umí spektrální elipsometr měřit také hodnotu indexu lomu a to pro jednotlivé vlnové délky podél spektrálního rozsahu. Tak jako u NanCalcu lze i SpecEl doplnit o doplňky, jako je možnost mapování a výkonný software umožňuje různé druhy modelování.

Ideální pro měření plochých vzorků, jakými jsou waffery, sklo, fólie a tenké vrstvy na plochých podkladech.

Stáhněte si o systému SpecEl 2000 více informací:

Chcete doporučit vhodnou konfiguraci systému pro Vaši aplikaci? Zašlete nám svůj dotaz.

Položky označené hvězdičkou (*) jsou povinné.

Po kliknutí na "Odeslat zprávu", bude zpráva zaslána na náš e-mail. Odpověď můžete očekávat do 2 pracovních dnů. Většinou to ale bývá do pár hodin.


RSSRSS

Novinky

2019 6. 6.

Výstava Sensor+Test, Německo

Dovolte, abychom Vás pozvali k návštěvě naší expozice v rámci výstavy konané u příležitosti mezinárodní výstavy

Archiv novinek

Zasílání novinek e-mailem

Přejete si dostávat novinky do Vaší e-mailové schránky? Vyplňte následující formulář.

Zasílání novinek e-mailem


Logo MBG systems Logo IDIL Logo QPS PhotronicLogo KEOPSYS Logo Ocean Optics   Logo PRECITEC Logo Opto Acoustics Logo STANDAFianiumlogo Diener Electronic

© 2019, Safibra, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na CMS WebArchitect | SEO a internetový marketing