Spektroskopický reflektometr NanoCalc

Spektroskopický reflektometr NanoCalc

NanoCalc je systém určený pro měření tloušťky tenkých vrstev, k čemuž je využívána reflektometrie. NanoClac existuje v několika verzích, základní systém NanoCalc XR je schopen měřit tloušťku vrstev od 10 nm po 100 umrozlišovací schopností 0.1 nm a to v rozsahu vlnových délek 250-1050 nm. Měřit tloušťku vrstvy lze i na vícevrstvých strukturách, v podstatě až do 10 vrstev

Celé měření netrvá déle než 1 s, proto lze systém NanoCalc zařadit i do on-line průmyslových aplikací. Kromě toho existuje celá řada doplňků, kterými lze  základní přístroj doplnit, jako je mikrospor, stolek s držákem sondy, stolek pro použití i v transmisním módu, popř. mikroskop, mapovací stolek atd.

Stáhněte si o systému NanoCalc více informací:

Chcete doporučit vhodnou konfiguraci systému pro Vaši aplikaci? Zašlete nám svůj dotaz.

Položky označené hvězdičkou (*) jsou povinné.

Po kliknutí na "Odeslat zprávu", bude zpráva zaslána na náš e-mail. Odpověď můžete očekávat do 2 pracovních dnů. Většinou to ale bývá do pár hodin.


RSSRSS

Novinky

2017 4.10.

Speciální sleva - Kurz osvětlovací techniky XXXIII

U příležitosti konference „Kurz osvětlovací techniky XXXIII“ poskytneme slevu 10%.

Archiv novinek

Zasílání novinek e-mailem

Přejete si dostávat novinky do Vaší e-mailové schránky? Vyplňte následující formulář.

Zasílání novinek e-mailem